Applications de la tomographie X et microtomographie X dans le domaine des géosciences

Elisabeth Rosenberg

IFP Energies nouvelles, 1 et 4 avenue de Bois-Préau, Rueil-Malmaison

La tomographie X est une technique très complémentaire de la microscopie. Elle permet de couvrir une large gamme d’échelles et ses caractéristiques les plus recherchées sont les informations sur la structure interne des matériaux, sur la connectivité des réseaux poreux ou des phases composant le matériau, et la possibilité de suivre in situ des évolutions d’un échantillon sous sollicitation (sous écoulement, réactif ou non, sous contrainte de pression ou autre…). Différents exemples d’application aux géosciences seront présentés, du modèle analogique aux écoulements sous scanner médical jusqu’à la caractérisation des milieux poreux à l’échelle du pore par microtomographie X de laboratoire ou sous rayonnement synchrotron. Ces descriptions de milieux poreux 3D à des échelles spatiales et temporelles multiples permettent d’interpréter plus finement les expériences de laboratoire et leur extrapolation à des échelles beaucoup plus grandes.
 

Images en micro-tomographie X synchrotron (ESRF)	Expérience d’écoulement sous scanner X en laboratoire d’une mousse en écoulement dans un milieu poreux 3D