Microscope à Force Atomique AFM

L’AFM permet d’obtenir la topographie d’une surface comprise entre 100x100 μm et 100x100 nm. Les échantillons peuvent être observés à l’ambiant mais aussi en présence d’un liquide. Différents modes permettent aussi d’obtenir des informations sur les propriétés mécaniques et électriques de ces surfaces.
 

Applications

L'AFM permet :
 

  • Imagerie à l'échelle micrométrique de tous échantillons (métaux, céramiques, verre, polymères, matériaux biologiques, etc...) dans l'air ou en milieu liquide
  • Cartographie des propriétés mécaniques des matériaux (détermination des modules élastiques de surface, etc...)
  • Cartographie des propriétés électriques des matériaux conducteurs (visualisation des phases isolantes et conductrices)

Microscope disponible

La plateforme dispose d’un AFM Dimension Icon piloté par un Nanoscope V Bruker.

Les modes disponibles sont :
 
Topographie : Tapping et Scanasyst

AFM 1
AFM 1
AFM 2
AFM 2

Propriétés mécaniques : mode QNM

AFM 3
AFM 3
AFM 4
AFM 4

Propriétés électriques : conductive

AFM 5
AFM 5
AFM 6
AFM 6

Microscope à Force Atomique
Microscope à Force Atomique


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