Microscope à Force Atomique AFM
L’AFM permet d’obtenir la topographie d’une surface comprise entre 100x100 μm et 100x100 nm. Les échantillons peuvent être observés à l’ambiant mais aussi en présence d’un liquide. Différents modes permettent aussi d’obtenir des informations sur les propriétés mécaniques et électriques de ces surfaces.
Applications
L'AFM permet :
- Imagerie à l'échelle micrométrique de tous échantillons (métaux, céramiques, verre, polymères, matériaux biologiques, etc...) dans l'air ou en milieu liquide
- Cartographie des propriétés mécaniques des matériaux (détermination des modules élastiques de surface, etc...)
- Cartographie des propriétés électriques des matériaux conducteurs (visualisation des phases isolantes et conductrices)
Microscope disponible
La plateforme dispose d’un AFM Dimension Icon piloté par un Nanoscope V Bruker.
Les modes disponibles sont :
Les modes disponibles sont :
- Topographie : Tapping et Scanasyst
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AFM 1 AFM 2 - Propriétés mécaniques : mode QNM
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AFM 3 AFM 4 - Propriétés électriques : conductive
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AFM 5 AFM 6
