Diffractomètre à Rayons X
X-Ray Diffraction (XRD) System - Brucker D8 Advance
L'analyse DRX (Diffraction des Rayons X) est une méthode d'analyse structurelle qui utilise la diffraction des rayons X formés par les cristaux pour analyser la distribution spatiale des atomes internes d'une substance.
Applications
- Identification des matériaux
- Taille et distribution des particules
- Analyse de la taille des cristallites
- Analyse du stress et de la texture
X-Ray Diffraction (XRD) System - Bruker D8 Advance
- Goniomètre
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- Configuration Thêta/Thêta
- Distance de 280mm côté source ajustable côté détecteur entre 100mm et 500mm
- Précision angulaire meilleure que +/-0,01° sur l'ensemble du diffractogramme
- Plus petit pas (Θ/Θ) : 0,0001°
- Plage angulaire 2Θ de -10° à +164°
- Générateur
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- Puissance maximale : 3000 W
- Haute tension : 20-50 kV, réglable par pas de 1 kV
- Intensité : 5-60 mA, réglable par pas de 1 mA
- Stabilité : meilleure que 0,005% pour des fluctuations de l'alimentation électrique de 10%
- Détecteur
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- Taille de pixel idéale 75 μm
- Mode Bragg 2D pour réaliser pré-études rapides
- Détecteur silicium à pistes avec 160 canaux / 700.000 cps par canal
- Autres caractéristiques
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- Chambre haute température 1200°C (ANTON PAAR HTK 1200N)
- Tube rayons X céramique à anticathode de Cuivre
- Système Optique : Mode DBO (Dynamic Beam Optimisation)
- Passeur automatique d'échantillons 9 positions
- Logiciels : DIFFRAC.EVA et DIFFRAC.TOPAS
| Personne Compétente en Radioprotection (PCR) |
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| Régis BESSE, regis.besse@cyu.fr |