Prestations

Prestations et services

CY Microscopies et Analyses met à votre service un équipement de haute performance depuis la préparation de vos échantillons jusqu’à leur expertise en passant par leur caractérisation.

CY Microscopies et Analyses vous propose un accompagnement complet et personnalisé, avec une offre qui s’adapte à vos besoins.

Types de prestations :

  • Préparation d’échantillons : Enrobage, coupe, polissage, fixation, métallisation, etc
  • Acquisition d’images et analyses
  • Traitement des images : Distribution de la taille des particules, détermination d’épaisseur, mesure de rugosité,…
  • Analyse des résultats
  • Rédaction de rapports
  • Développement de méthodologies d’analyses adaptées à vos échantillons

Nos offres

Cliquez sur chaque offre pour davantage d'informations.
 
Microscopie Confocale à Balayage Laser (CLSM)
  • Etude de la morphologie cellulaire 2D et 3D

  • Analyse topographique de surface dans la caractérisation de matériaux

  • Mesure de rugosité selon la norme ISO4287

Microscopie Electronique à Balayage (MEB)
  • Observation de défauts, de produits d’altération, d’endommagements mécaniques et/ou thermiques
  • Imagerie d'échantillons biologiques (cellules animales, microorganismes, tissus, végétaux, hydrogels)
  • Mesure de la taille de particules et calcul de leur distribution
  • Identification des compositions chimiques élémentaires et/ou moléculaires (ponctuelles ou cartographies)
Microscopie Raman
  • Détermination de la composition de matériaux (naturels et/ou synthétisés) quel que soit le domaine d’application
  • Identification de produits d’altération dans les roches et matériaux du génie civil
  • Identification des molécules organiques et des composés inorganiques
Microscopie à Force Atomique (AFM)
  • Détermination des morphologies (exemple : mélange de polymères ou matériaux hybrides)
  • Mise en évidence de défauts microniques et submicroniques de surface
  • Détermination des défauts de conductivité dans les composants électroniques
Microscopie corrélative
  • Caractérisation d’un échantillon complètement inconnu
  • Corrélation de la structure donnée par la microscopie électronique avec la fonction révélée par la microscopie confocale.

Pour toute information, vous pouvez nous contacter via ce formulaire.

Nous contacter :

 
sebastien.peralta@cyu.fr